Composición elemental

ANALIZADOR DE CARBONO/AZUFRE HORIBA EMIA-EXPERT

Se basa en la experiencia ampliamente respetada de HORIBA en tecnología de infrarrojos no dispersivos (NDIR)
Funciones avanzadas para EMIA-Expert
Unidad Purificadora de Alto Rendimiento para Gas Portador
Unidad de filtro de calefacción de alto rendimiento
La serie EMIA puede completar un ciclo de medición, «limpieza de resultados de visualización de medición», en 70 segundos (es decir, alrededor de 50 muestras/hora)

Unidad Purificadora de Alto Rendimiento para Gas Portador
Unidad de filtro de calefacción de alto rendimiento
Largo MTBM (Tiempo medio entre mantenimiento)
El exclusivo mecanismo de limpieza recientemente desarrollado elimina el polvo del horno, lo que permite al operador continuar utilizando el EMIA-Expert/Pro sin limpieza de mantenimiento para hasta 200 mediciones*
La serie EMIA puede completar un ciclo de medición, «limpieza de resultados de visualización de medición», en 70 segundos (es decir, alrededor de 50 muestras/hora)

Oxígeno: detector infrarrojo no dispersivo
Nitrógeno: detector de conductividad térmica (TCD)
Medición de amplio rango y alta precisión
*Rango: Oxígeno: 0-5%, Nitrógeno: 0-3%, Hidrógeno: 0-0,25%
*Precisión: σn-1≦0.3ppm o CV≦1.0% para muestra STD
σn-1≦0.02ppm o CV≦0.5% para gas de referencia
*Precisión H: σn-1≦0.04ppm o RSD≦2.0% para gas de referencia
Los detectores dobles de oxígeno (CO y CO₂), la celda de tipo largo y el diseño optimizado de TCD brindan mediciones de amplio rango.
La optimización del procesamiento de la señal reduce a la mitad el ruido eléctrico en comparación con el modelo convencional.

La serie EMGA tiene detectores de gas NDIR desarrollados, diseñados y fabricados por HORIBA.
Reduce significativamente el tiempo y los costos del análisis al tiempo que mejoran la precisión y la funcionalidad del análisis.
El algoritmo patentado de HORIBA y la optimización del flujo de gas reducen el tiempo de análisis habitual en un 40 %
Permite realizar análisis de alta precisión con una amplia gama de mediciones, desde ppm hasta %
Los electrodos laterales inferiores cuentan con un nuevo mecanismo y el filtro de polvo
Reduce las horas de trabajo para realizar análisis.

Visualización radial y Total Plasma View que proporcionan los límites de detección más bajos en espectrometría ICP-OES
Función única de gas envolvente para una estabilidad inigualable en muestras con alto contenido total de sólidos disueltos, hasta un 30 % de sólidos disueltos
Cobertura continua de longitud de onda de 120 a 800 nm con opción Far UV
Mejora la sensibilidad para el análisis de halógenos o longitudes de onda alternativas
Resolución espectral inigualable que minimiza las interferencias con <5 pm para longitudes de onda en el rango de 120-320 nm

Espectroscopia de fluorescencia de rayos X
El detector de deriva de silicio (SDD) reduce drásticamente los tiempos de medición y proporciona una mayor sensibilidad para un análisis de alto rendimiento real.
Portátil, de tamaño reducido y peso ligero
Fuente de alimentación de batería interna
Reduce el trabajo de mantenimiento de rutina (operación libre de LN2)
Sin necesidad de bombas de vacío
Proceso de medición sencillo e intuitivo para todo tipo de materiales

Microscopio analítico de rayos X (Micro-XRF)
Espectroscopia de fluorescencia de rayos X
Tamaño de sonda <15 µm con intensidad ultra alta sin comprometer la sensibilidad o la resolución espacial
Cámaras de alta resolución y múltiples modos de iluminación para ayudar a capturar imágenes.
Tipos duales de detectores para rayos X de transmisión y fluorescentes
Rango de elementos detectables hasta el carbono con un detector de elementos ligeros