MICROSCOPIO DE FUERZA
ATÓMICA AFM PARK NX7
- Escaneo XY preciso por eliminación de diafonía
- Dos escáneres de flexión XY y Z de circuito cerrado independientes
- Escaneo XY plano y ortogonal con arco residual bajo
- Mediciones de altura precisas sin necesidad de procesamiento de software
- La solución AFM más extensible
- La gama más completa de modos SPM
- Los modos de medición nanomecánicos avanzados son compatibles de forma predeterminada con el controlador electrónico NX
- La mejor opción de compatibilidad y capacidad de actualización en la industria
- Funciones de software y hardware impulsadas por la experiencia del usuario
- Acceso lateral abierto para facilitar el intercambio de muestras o puntas
- Alineación láser fácil e intuitiva con montaje de punta prealineada
- Park SmartScanTM: software operativo AFM lo suficientemente versátil como para capacitar tanto a principiantes como a usuarios avanzados hacia una gran investigación a nanoescala
LINK PARA MAYOR INFORMACIÓN
https://www.parksystems.com/products/small-sample-afm/park-nx7/overview
MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA AFM PARK NX10
- Escáner 2D guiado por flexión con alcance de escaneo de 50 µm x 50 µm
- Escáner Z de alta velocidad con alcance de escaneo de 15 µm
- Sensores de posición XYZ de bajo ruido
- Plataforma de muestra XY motorizada
- Automatización de escaneo por pasos
- Porta muestras accesible
- Ranura de expansión para modos y opciones avanzadas de SPM
- Óptica de alta potencia directa en el eje alimentado con iluminación LED integrada
- Enganche automático por deslizamiento para conectar cabezal SLD
- Escenario Z motorizado alineado verticalmente y escenario de enfoque
- Electrónica digital de alta velocidad de 24 bits
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https://www.parksystems.com/products/small-sample-afm/park-nx10/overview
MICROSCOPIO DE FUERZA
ATÓMICA AFM PARK NX12
- El AFM más versátil para química analítica
- La plataforma perfecta para la electroquímica fundamental
- Células electroquímicas versátiles y fáciles de usar
- Opciones de control ambiental para gas inerte y humedad
- Microscopio óptico invertido (IOM)
- Compatibilidad bi-potenciostato
- Escáner Z de flexión guiado de alta fuerza
- Rango de escaneo: 15 µm (opcional 30 µm)
- Nivel de ruido de altura: 30 pm (RMS, con un ancho de banda de 0,5 kHz)
- Escáner XY de flexión de módulo único con control de circuito cerrado
- Rango de escaneo: 100 µm × 100 µm
- Rango de escenario Z: 25 mm (motorizado)
- Rango de viaje de enfoque: 15 mm (motorizado)
- Rango de recorrido de la platina XY: 10 mm x 10 mm (motorizado)
- Software: SmartScanTM, XEI
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https://www.parksystems.com/products/small-sample-afm/park-nx12/overview
MICROSCOPIO DE FUERZA
ATÓMICA DE ALTO VACÍO AFM PARK NX-HIVAC
- Para el análisis de fallas y la investigación de materiales sensibles a la atmósfera
- Park Hivac Manager, control de vacío automático NX-Hivac
- Automatización StepScan con platina motorizada
- Alineación láser motorizada
- Escáner Z de flexión guiado de alta fuerza
- Rango de escaneo: 15 µm
- Nivel de ruido de altura: 30 pm (RMS, con un ancho de banda de 0,5 kHz)
- Escáner XY de flexión de módulo único con control de circuito cerrado servo dual
- Rango de escaneo: 100 µm × 100 µm (opcional 50 µm × 50 µm)
- Rango de etapa Z: 24 mm (motorizado)
- Rango de viaje de enfoque: 11 mm (motorizado)
- Rango de recorrido de la platina XY: 22 mm x 22 mm (motorizado)
- Tamaño de la muestra: Espacio abierto hasta 50 mm x 50 mm, espesor hasta 20 mm
- Peso de la muestra < 500 g
- Sensores de posición XYZ de bajo ruido
- Electrónica digital de 24 bits
- Software: SmartScanTM, XEI, Hivac Manager
LINK PARA MAYOR INFORMACIÓN
https://www.parksystems.com/products/high-vacuum-afm/park-nx-hivac