MICROSCOPIO DE FUERZA
ATÓMICA AFM PARK NX7
- Escaneo XY preciso por eliminación de diafonía
- Dos escáneres de flexión XY y Z de circuito cerrado independientes
- Escaneo XY plano y ortogonal con arco residual bajo
- Mediciones de altura precisas sin necesidad de procesamiento de software
- La solución AFM más extensible
- La gama más completa de modos SPM
- Los modos de medición nanomecánicos avanzados son compatibles de forma predeterminada con el controlador electrónico NX
- La mejor opción de compatibilidad y capacidad de actualización en la industria
- Funciones de software y hardware impulsadas por la experiencia del usuario
MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA AFM PARK NX10
- Escáner 2D guiado por flexión con alcance de escaneo de 50 µm x 50 µm
- Escáner Z de alta velocidad con alcance de escaneo de 15 µm
- Sensores de posición XYZ de bajo ruido
- Plataforma de muestra XY motorizada
- Automatización de escaneo por pasos
- Porta muestras accesible
- Ranura de expansión para modos y opciones avanzadas de SPM
- Óptica de alta potencia directa en el eje alimentado con iluminación LED integrada
- Enganche automático por deslizamiento para conectar cabezal SL
MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA DE ALTO VACÍO AFM PARK NX-HIVAC
- Para el análisis de fallas y la investigación de materiales sensibles a la atmósfera
- Park Hivac Manager, control de vacío automático NX-Hivac
- Automatización StepScan con platina motorizada
- Alineación láser motorizada
- Escáner Z de flexión guiado de alta fuerza
- Rango de escaneo: 15 µm
- Nivel de ruido de altura: 30 pm (RMS, con un ancho de banda de 0,5 kHz)
- Escáner XY de flexión de módulo único con control de circuito cerrado servo dual
- Rango de escaneo: 100 µm × 100 µm (opcional 50 µm × 50 µm)
- Rango de etapa Z: 24 mm (motorizado)
